בהרצאה הראשונה נציג בדיקות האמינות של Plated Trough Holes (PTH) & High Density Interconectors (HDI) בכרטיסי אלקטרוניקה ומעבר על הפרמטרים המשפיעם על אמינותם שהוצגו בכנס IPT High Reliability Forum for MIL-Aero and Automotive Sectors Baltimore, May 2018
תאור על שיטת בדיקה חדשה של HDI על פי IPC-TM650-2.6.27A.
מעבר של תוצאות ניסוי וקביעת קריטריון כשל.
בהרצאה השנייה נציג חקר כשל של רכיב TSSOP בתהליך ניסויים הנדסים וניסוי Durability Life Test.
|
13:45 – 14:00 |
התכנסות וכיבוד |
|
14:00 – 14:15 |
דברי פתיחה |
|
14:15-15:45 |
אמינות של כרטיסי אלקטרוניקה PWB
|
|
15:45-16:00 |
הפסקת קפה |
|
16:00-17:15 |
חקר כשל של רכיב TSSOP בתהליך ניסויים הנדסים וניסוי Durability Life Test
|
קהל יעד: מהנדסי טכנולוגיה, מנהלי פיתוח חומרה, מתכנני כרטיסים מודפסים, מהנדסי רכיבים, מנהלי איכות ואמינות, מנהלי הנדסה, תפעול וייצור ותכן תרמיהערות:
| מחירים ללא מע"מ | קהל רחב | חברי אילטם |
| מחיר | 300 ש"ח | ללא תשלום |
הרשמה מראש חובה !!!
ביטול השתתפות אחרי 25.6.2018 ו/או אי הגעה ביום המפגש יחויב בתשלום מלא.
ביטול יתקבל בכתב בלבד.
הפעילות בוצעה ב - 02/07/2019
| קהל רחב | חברי INCOSE_IL | |
| מחיר (לפני מע"מ) | ₪300 | חינם |
